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多波長橢偏儀（僅需25萬！）

AUTFS1橢偏儀是利用橢圓偏振的方法對樣品進行光學(xué)表征。在該系統(tǒng)中由偏振態(tài)發(fā)生器（PSG）發(fā)射已知偏振態(tài)的光斜入射到樣品上，然后偏振態(tài)檢測器（PSD）檢測反射光的偏振狀態(tài)。如下圖所示

由樣品引起的發(fā)射光偏振態(tài)的變化可以由P偏振光和S偏振光的反射率的比值決定。比值為復(fù)數(shù)，如下圖所示：其中tan（Y）定義了P偏振光和S偏振光反射率比值的大小，D定義了P偏振光和S偏振光的相位差。

由于該方法測量的是一個比值，因此對光的強度的變化，以及樣品缺陷造成的散射不敏感，并且在每個波長測量兩個參量可獲得兩個常量例如：薄膜厚度和折射率，此外D對薄膜厚度非常敏感，可以使薄膜厚度測量精度到0埃。

上海昊量光電推出的多波長橢偏儀采用長壽命的LED光源，可分別提供465nm、525nm、580nm和635nm四種不同波長，并使用無移動部件的橢圓偏振檢測器，緊湊的系統(tǒng)提供快速可靠的薄膜測量。

通過1秒的測量可以精確的測量0-1000nm的大多數(shù)透明薄膜的厚度。并可以獲得n和k等光學(xué)常量。

相比于單波長橢偏儀，多波長橢偏儀可測定薄膜厚度，對于透明薄膜測量厚度至少可達1μm，不存在厚度周期性問題；可確定樣品其它其它參數(shù)特性例如薄膜粗糙度、多層膜厚度等；對數(shù)據(jù)分析提供檢測依據(jù)，一個良好的分析模型應(yīng)該適用于不同波長的數(shù)據(jù)；對于非常薄的薄膜（<20nm）多波長橢偏儀提供的數(shù)據(jù)信息量可以與光譜橢偏儀相媲美。

應(yīng)用案例：

原位測量：